JR25型三维表面形貌仪是一款便携式表面形貌测量仪，采用国际**的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器的测量探头可以任意旋转，适合精密测量 不可移动样品表面形貌，同时适合进行野外测试。

产品特性

采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率

测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高

测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；

尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面

不受样品反射率的影响

不受环境光的影响

Z方向，测量范围大：为27mm

扫描范围：25×25（mm）

扫描步长：0.1μm

扫描速度：20mm/s

Z方向测量范围：27mm

Z方向测量分辨率：3nm

产品应用

MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发。