手机版 |
产品分类 |
石油专用分析仪器
Herzog by PAC自动常压蒸馏仪
自动双位点闭口闪点仪
Herzog by PAC自动闭口闪点仪
Herzog by PAC自动开口闪点仪
Herzog by PAC自动减压馏程仪
倾浊点、冷滤点、冰点、凝点一体机
ISL by PAC自动倾点仪
自动凝点仪
ISL by PAC自动冷滤点仪
自动冰点仪
光学仪器及设备
Park XE7原子力显微镜
Park NX10原子力显微镜
Park NX12生物原子力显微镜
Park NX-Hivac高真空原子力显微镜
Park NX20大样品原子力显微镜
测量/计量仪器
Nanovea JR25便携式三维轮廓仪
Nanovea PS50非接触式光学轮廓仪
Nanovea ST400三维表面形貌仪
光谱检测分析仪
Ostec E/M显微拉曼光谱仪
Ostec CARS相干反斯托克斯拉曼光谱仪
比表面积测定仪
Nanovea微纳米压痕划痕仪
Ostec纳米压痕-拉曼联用系统
元素分析仪
Ostec元素分析仪
半导体行业专用仪器
超声波扫描显微镜
联系方式 |
产品系列
产品描述
PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备,采用国际**的白光共聚焦技术,可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试,具有测量精度高,速度快,重复性好的优点,该仪器性价比高,可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。
产品特性
采用白光共聚焦色差技术,可获得纳米级的分辨率
测量具有非破坏性,测量速度快,精确度高
测量范围广,可测透明、金属材料,半透明、高漫反射,低反射率、抛 光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…);
尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面
不受环境光的影响
测量简单,样品无需特殊处理
Z方向,测量范围大:为27mm
主要技术参数
扫描范围:50×50(mm)
扫描步长:0.1μm
扫描速度:20mm/s
Z方向测量范围:27mm
Z方向测量分辨率:2nm
产品应用
MEMS、半导体材料、太阳能、摩擦磨损、汽车、腐蚀、砂纸、岩石等。